میکروسکوپ روبشی نیروی اتمی یا AFM یکی از مجموعه میکروسکوپ های پروبی روبشی یا SPM است که سطح ماده را با قدرت تفکیکی در مقیاس کم‌تر از آنگستروم روبش کرده و تصاویر توپوگرافی از یک خاصیت فیزیکی یا شیمیایی سطح ماده را تهیه می‌کند.
در این تکنیک کلی همانند سایر روش‌های میکروسکوپی روبشی مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی، سطح نمونه توسط یک سوزن یا پروب روبش شده و با اندازه‌گیری و پردازش سیگنال به دست آمده از نقاط مختلف سطح روبش شده بر روی نمونه، تصویر آن سطح تهیه می‌شود. قدرت تفکیک و بزرگ‌نمایی میکروسکوپ پروبی روبشی بهتر از میکروسکوپ‌‌های الکترونی متداول است و توانایی تهیه تصاویر سه بعدی از اتم‌ها را نیز فراهم می‌آورد.
هر SPM از یک سوزن تیز برای روبش سطح نمونه استفاده می‌کند تا نقشه‌ای سه بعدی از سطح ایجاد کند. غالباً این سوزن که به شکل هرم یا مخروط است در انتهای بازویی که کانتی‌لیور نامیده می‌شود، قرار دارد.ساده‌ترین نقشه‌ای که SPM به وجود می‌آورد، نقشة توپوگرافی (سه بعدی) سطح است. نقشه‌های دیگری هم قابل دستیابی است که مناطقی از سطح که به صورت فیزیکی یا شیمیایی از بقیه نقاط متمایز هستند را نشان می‌دهند و اطلاعاتی در مورد خواص الکتریکی، مکانیکی، مغناطیسی، اپیتیکی و سایر خواص ماده به دست می‌دهند.